EL+VI检测单元 设备原理 ● 高清在线EL+VI一体机，可以同时检测组件内部缺陷和外观缺陷，采用4台EL相机和4台外观检测相机，采用组件移动三次拍摄成像，两台大屏幕显示器分别显示EL和VI图像。 ● EL检测主要用于检测组件的外部缺陷如：隐裂，断栅，碎片，裂纹，黑斑，功率等级混，虚焊，断栅，工艺缺陷等。 ● VI检测主要用于检测组件的外部缺陷如：表面污染，串间距，对角线，缺角，崩边，划痕，露白，异物等。 设备工作特点： ★ 在线EL检测，四相机拍摄模式，同进同出，单相机230W（1920*1200）像素。 ★ 外观检测单相机像素2000W（5440*3468）像素。 ★ 多点承接型，工作台高度950mm±30mm，长边进，长边出。 ★ 伺服控制并且设备内自带校正功能，保证组件上电精准度。 ★ 信号输入启动，组件进入检测单元，测试检查完成后选择分类，组件流出，支持MES,SQL数据库与SPC统计功能。 ★ 高低电流可同时测试。 设备主要技术参数
| 技术指标 | |
| 检测类型 | 层压前和层压后 晶硅组件检测，标准组件，双玻组件等 |
| 相机像素 | EL 4*230W （1920*1200）像素 AI 4*2000W （5440*3468）像素 |
| 图片分辨率 | EL＜0.4mm/pixel；外观≤0.2mm/pixel |
| 相机类型 | 采用SONY芯片 |
| 镜头 | CCD工业红外光学镜头 |
| 快门 | 电子快门 |
| 图像拼接 | 图像自动拼接 |
| 通电成功率 | 一次通电成功率＞99.95%；可以自动识别是否通电，并报警 |
| 拍摄方式 | 组件正面向下，移动三次成像 |
| 测试周期 | ≤30s |
| ***大测试范围 | 长边（1580-2000）mm*短边（800-1100）mm |
